智能存储如何应对极端环境挑战？忆联独家解锁PCIe 5.0固态存储“抗辐射”黑科技，重新定义数据安全

在人工智能驱动的数字时代，海量数据的高效存储与快速调用成为AI应用的核心支柱。从智能推荐系 统的实时数据处理，到深度学习模型的参数训练，固态硬盘(SSD)以其卓越的读写速度与稳定性，正成 为AI基础设施的关键组件。然而，鲜为人知的是，在微观世界中，中子辐射引发的比特翻转问题，正 悄然威胁着AI的数据安全与系统稳定性。 忆联作为国内唯一高分通过中子辐照测试的SSD厂商，联合国内知名机构中国散裂中子源在远超地表中 子辐射量的模拟环境下，实测PCIe Gen5 ESSD UH812a的高可靠性，以期为AI时代提供更安全高效的存 储解决方案。 1.2验证平台 中国散裂中子源是国际前沿的高科技多学科应用的大型研究平台，依托中国散裂中子源建成的大气中子 辐照谱仪是国内首台、国际先进的大气中子地面模拟加速测试平台，可为航空、电力电子、智能驾驶、 高性能存储与计算等领域的高可靠性的电子元器件及系统提供大气中子单粒子效应风险评估和测试服 务。 1.测试背景与环境 1.1测试背景 中子，作为一种不带电的亚原子粒子，广泛存在于宇宙射线、高海拔地区、核电站周边等环境中。当这 些微小的粒子穿透SSD的存储单元时，可能会导致存储芯片中的 ...