推动RISC-V芯片设计革命，第五届RISC-V中国峰会EDA分论坛干货满满

第五届RISC-V中国峰会于2025年7月16至19日在上海张江科学会堂隆重举办，本届峰会设置1场主论 坛、9场垂直领域分论坛、5场研习会、11项同期活动，以及4,500平方米未来科技展览区，汇聚数百家 企业、研究机构及开源技术社区参会。 高效调试功能：支持快速内存访问，最小化调试开销，并能通过DMA技术大幅提升调试速度。 先进的追踪能力：提供周期精确的指令追踪，并支持多种追踪模式（如跳转模式、分支预测、隐式返回 模式）。 可扩展性：适用于从单一核到整个系统的调试，支持多芯片设计，并为每个芯片提供嵌入式分析和功能 监控。 验证和集成：与UVM验证环境集成，确保硬件IP模块和SoC组件正确连接，支持高效的测试和验证过 程。 在7月18日的EDA分论坛上，西门子EDA客户技术经理李一凡，芯来科技建模工程师徐子泰，晶心科技 软件工程师颜敬哲，思尔芯软件工程师杨德豪，新思科技应用工程师范宇杰，Breker Verification System 创始人,CTO ,Adnan Hamid，中国科学院计算所副研究员解壁伟，等诸多业界杰出的工程师，分别从 RISC-V系统设计的高效调试，加速RISC-V系统设计仿真优化、验 ...