关于芯片验证,一些思考
半导体行业观察·2026-02-04 01:38
公众号记得加星标⭐️,第一时间看推送不会错过。 当约束随机测试模式生成成为验证设计的实际标准方法时,参考模型就变得必不可少,以检查设计是 否产生正确的输出。这些参考模型通常分布在多个模型中,例如检查器、记分板和断言器。 另一个需要创建的模型是覆盖率模型。之所以需要它,是因为必须知道生成的测试是否真正有效,并 能测试出之前未测试过的设计方面。初始模型的生成定义了设计中需要确保得到测试的重要方面。覆 盖点和覆盖组被定义,尽管它们实际上并不对应于被模拟和检查的功能,但它们被认为是足够好的替 代指标。在我个人看来,这是业界做出的一个错误决定,而且代价非常高昂。 在讨论交叉问题之前,你无法与任何验证人员进行讨论。他们会很快指出,如果你定义了一组覆盖 点,那么你也需要考虑这些覆盖点的交叉问题,很快你就会陷入一个棘手的问题。最后一点确实如 此,因为大多数实际设计中的状态总数是无法遍历所有状态的,因此永远无法进行完全验证。但是 ——这是一个重要的"但是"——你根本不需要这样做。 代码覆盖率有很多种,例如行覆盖率、切换覆盖率、决策覆盖率和分支覆盖率等等。不胜枚举,但我 认为有一种覆盖率非常重要,却常常被忽略——路径覆盖率。路径 ...