这项突破的核心在于，该芯片技术能够直接惠及临床，为患者解决三大痛点。 首先，有望精准定位"怀不上"的根源。研究团队利用该芯片发现，RIF患者的子宫内膜细胞存在凋亡增 多、增殖下降等异常。研究发现，RIF患者来源的子宫内膜囊胚植入率仅为健康人群的60%，且植入后 胚胎进一步发育能力严重不足，这直观解释了临床中"移植成功但胎停"的现象。未来，患者仅需提供少 量子宫内膜样本，即可通过该芯片评估内膜功能，告别"病因不明"。 一枚指甲盖大小的芯片，为不孕患者带来精准治疗新希望。中国科学院动物研究所于乐谦研究员团队联 合国内外单位的科研人员，成功研发出3D子宫胚胎植入模拟芯片，首次在实验室完整复刻了人类胚胎 着床全过程。该研究突破了长期困扰该领域的伦理与技术瓶颈，为阐明反复胚胎种植失败（RIF）的病 理基础提供了全新研究平台。相关研究成果23日发表于《细胞》杂志。 数据显示，我国不孕症人群已超4000万，在接受辅助生殖技术治疗的患者中，约有10%的个体经历多次 胚胎种植仍无法成功妊娠，从而陷入RIF困境。过去，RIF病因诊断像"大海捞针"，治疗多靠医生经 验"盲目尝试"，效果参差不齐。 其次，能快速筛选"最有效"的个性化 ...