含金量检测仪：X射线荧光光谱技术的深度解析 一、XRF光谱技术的工作原理：原子能级的微观舞蹈 （一）原子能级跃迁理论：元素识别的物理基础 XRF技术基于原子内层电子受激跃迁与特征辐射释放的物理过程。当高能X射线（能量5-50 keV）穿透黄金样品表 层（深度1-50 μm）时，会击出原子内层（如K层或L层）电子，形成电子空穴。外层电子向内层跃迁填补空位 时，释放出特定能量的特征X射线荧光。例如，金元素（Au）的Lα特征峰位于9.71 keV，银元素（Ag）的Kα线为 22.1 keV。这些特征峰的能量与元素种类一一对应，强度则反映元素含量，构成纯度分析的物理基础。 | 分析范围 | 0.01%~99.99 % | | --- | --- | | 测量精度 | 0.05% | | 高压电源 | 0~50KV | | 光管管流 | OuA~1000uA | | 摄像头 | 高清摄像头 | | 探测器 | 新型Si-PIN探测器 | | 多道分析器 | 数字多通道 | | 样品腔尺寸 | 270 * 260 * 100 (mm) | | 测试时间 | 5~60秒 | | 测量元素 | 从钾(K)~铀(U)之间74种 ...