IC集成探针卡等先进晶圆级测试技术
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广州:积极发展晶圆级、系统级、扇出型、倒装、硅通孔、Chiplet异构集成、三维等先进封装技术
Ge Long Hui· 2026-01-13 04:18
格隆汇1月13日|广州市工信局公开征求《广州市关于"十五五"时期全链条推动集成电路产业高质量发 展的若干政策》意见,其中提到,积极发展晶圆级、系统级、扇出型、倒装、硅通孔、Chiplet异构集 成、三维等先进封装技术,以及脉冲序列测试、MEMS探针、IC集成探针卡等先进晶圆级测试技术,加 快封装测试工艺技术升级和产能提升,支持先进封装测试生产线建设,对符合条件的项目,按照不超过 新设备购置额的20%给予补助,单个项目不超过2000万元。鼓励集成电路封测企业加大技术改造投入, 对符合有关条件的投资项目,参照本政策第四条给予相应奖励。 ...